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"유아기 CT스캔 방사선, 지적발달 저해"


[ 2004년 01월 04일 21시 25분 ]

유아기에 CT 스캔을 통해 조사된 방사선이 지적 능력 발달에 해로울 수 있다는 연구 결과가 나왔다.

머리 손상을 당한 소아에서는 흔히 CT 스캔으로 검사가 이루어지고 있다.

스웨덴 카롤린스카연구소의 퍼 홀 박사팀은 British Medical Journal 1월 3일자에서 뇌 발달에 고선량의 방사선이 정신지체를 유발하는 것으로 알려져 있지만 "저선량 노출이 인지기능에 어떤 미묘한 영향을 주는지는 알려져 있지 않았다"고 연구 배경을 설명했다.

홀 박사팀은 이 문제를 풀기 위해 피부혈관종이라는 일종의 출생모반을 치료하기 위해 1.5세 이전에 비교적 저선량의 방사선을 받은 바 있는 18~19세 연령의 남성 약 3000명을 대상으로 지적 기능 및 교육 정도를 분석했다.

연구팀은 대상자들을 ▲1-20 mGy ▲21-100 mGy ▲101-250 mGy ▲250 mGy 이상 등 네 가지 방사선량 범주에 따라 분류했다.

그 결과 고등학교를 다닌 대상자의 비율은 1-20 mGy 범주에 비해 100 mGy 이상의 범주에서 낮게 나타났다. 고등학교를 다닌 대상자의 비율은 방사선에 전혀 노출된 바 없는 남성의 경우 32%였으나 250 mGy 이상을 받은 남성에서는 17%였다.

유아기의 뇌 지체 역시 학습 능력과 논리적 추론 검사에서 부정적인 영향을 주는 것으로 나타났다. 그러나 공간인지 검사에서는 차이가 없었다.

유아기에 시행되는 머리 CT 스캔은 약 120 mGy의 방사선량을 나누어 주는 것으로 평가된다. 홀 박사팀은 "적어도 일부에서는 CT 스캔에 의해 나뉘어진 방사선량과 중복되는 선량으로 뇌를 조사하는 것이 지적 발달에 나쁜 영향을 준다"고 주장했다.

이 같은 소견에 근거해서 연구팀은 사소한 뇌 손상의 경우 CT 스캔의 유해함과 유익함이 재평가될 필요가 있다고 밝혔다.

<참고: BMJ 2004;328:19>